半导体X-RAY检测设备 X-7900可以检测半导体5um以下缺陷、一键测量汽包大小及空洞率，并可以将缺陷几何放大400X，检测图像系统放大2500X。
功能：
| CNC程序：自动批量检测样品不同位置 |
| 阵列功能：自动批量检测位置固定、间距相同样品 |
| 气泡测量：一键测量气泡大小、空洞率 |
| 长度、宽度测量：测量部分检测区域长度、宽度 |
| 可视化导航界面：检测位置精准定位 |
| 模拟颜色：更好观察检测图像 |
优势：
| 在线式自动 ON/OFF X-RAY光管批量检测样品 |
| 搭配90KV滨松X-RAY光管，检测精度达5um |
| 高分辨率数字X-RAY平板，1536*1536px图像更清晰 |
| 几何放大400x，系统放大2500x |
| 550*500mm载物台可容纳大量各种尺寸样品 |
| 可选载物台360°旋转检测样品 |
半自动的NG/OK产品检测 |
| 允许60°倾斜观测 |