测设备是专门为IC芯片做透视检测其内部缺陷的一款无损检测设备,它是IC芯片缺陷检测效果最佳的方式之一。X-RAY不仅可以对不可见的芯片焊点或断裂瑕疵...
详情 >测设备是专门为IC芯片做透视检测其内部缺陷的一款无损检测设备,它是IC芯片缺陷检测效果最佳的方式之一。X-RAY检测设备主要依靠内部X光管发射X射线...
详情 >测设备是专门为IC芯片做透视检测其内部缺陷的一款无损检测设备,它是IC芯片缺陷检测效果最佳的方式之一。X-RAY检测对IC芯片是属于无损检测范畴,检...
详情 >测设备是专门为IC芯片做透视检测其内部缺陷的一款无损检测设备,它是IC芯片缺陷检测效果最佳的方式之一。X-RAY检测设备主要依靠内部X光管发射X射线...
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