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X光机平板探测器技术三大分类CCD、一线扫描、非晶平板
2020-11-27 18:41:01

X光机应用越来越广泛,有医用X光机、工业X光机,而工业最主要以X光机无损检测发展趋头为主。X光机平板检测器的介绍就由SXRAY瑞茂光学在下面为你讲解!


X光机平板探测器主要分为三大技术


CCD、一线扫描、非晶体平板 (非晶硒、非晶硅+碘化铯/非晶硅+氧化钆)。


1、CCD


由于物理局限性,专家们普遍认为大面积平板采像 CCD 技术不胜任,而且CCD设备在图像质量上较非晶硅/硒平板设备有一定差距,但是相对有价格优势;世界上还有几个厂家用此技术如 Swissray。

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2、一线扫描


也称一维线扫描技术,由俄罗斯科学院核物理研究所发明,也就是国内中兴航天在生产的DR;有受照剂量低、设备造价相对平板技术更低廉的优点,但也存在成像时间长(数秒)、空间分辨率低(刚推出时是1mm/lp)以及X线使用效率低的致命缺陷;成像质量较差而且病人会接受大量不必要的辐射。 

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3、非晶平板


非晶硒/非晶硅;主要由非晶硒层(a-Se)/非晶硅层(a-Si)加薄膜半导体阵列 (TFT)构成。

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SXRAY瑞茂光学也大力推荐工业X光机X-7100,功能强大,下面为X-7100出货图供你查看。

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