X-RAY设备
products
X射线在线面密度/测重仪_X-3000TN
X射线在线面密度/测重仪_X-3000TN
载物台: 检测精度:±1‰ or >0.25g/m2 放大倍数:200x 检测领域:阴极极片、铜箔、铝箔 通道尺寸:

X-3000TN首次创新采用半导体应用到面密度,采样采用16bit 数字输出,搭配高精度AD转换;可以实现200KHZ 超高采样频率;可以宽范围测试不同的材料,检测精度 0.1um。

功能优势
优势
X射线的能量由内部高稳定性高压电源决定,不会随着时间衰减,保证测量的长期稳定性。
测量锂离子极片所用X射线能量相对较低,对周围环境的辐射剂量小,申请国家许可证更容易。
在线动态非接触测量 速度可达25m/min
温度自动补偿机制,能够提高测量精度


规格参数
Model:X-3000TN

测量范围

0-1000 g/m2

重复精度

±1‰ or >0.25g/m2

扫描速度

5-28m/min可调

射线类型

X射线(射线管)

测量原理

射线衰减率测量

适合产品

阴极极片、铜箔、铝箔

直接测量指标

面密度

放射性防护指标

豁免标准《GB18871-2002》

使用年限

2.5年(更换X射线管)

驱动系统

高精度伺服驱动

扫描架类型

C型架/O型架(可选)

最小检测下限

0.1um

SDD 探测器 扫描频率

10-200khz

电子称精度

0.1g( 0-2000g 量程)

设备重量

1380k

输入电源

220v AC ,50HZ, 2500W

X-ray检测设备

X-ray检测设备

X-ray检测设备

应用领域
X-3000TN首次创新采用半导体应用到面密度,采样采用16bit 数字输出,搭配高精度AD转换;可以实现200KHZ 超高采样频率;可以宽范围测试不同的材料,检测精度 0.1um。
X-7100 X-RAY检测领域广泛,通常应用于电子元器件的内部结构检测,常见气泡空洞率测量、电路短路断路、焊点缺焊少焊漏焊、内部存在异物裂缝等.....
半导体X-RAY检测设备 X-7900可以检测半导体3um的缺陷、一键测量汽包大小及空洞率,并可以将缺陷几何放大400X,检测图像系统放大2500X。
188-2319-2896