了解芯片测试就这么简单

2019-12-25 17:32:22

众所周知,芯片不仅影响着我们的生活,同时也在改变我们的生活,可以说,生活在地球上的人已经离不开芯片,小到我们的普通生活,大到军事领域,航天工程都离不开小小的芯片。芯片就是单个晶体管组合在一起形成具有强大处理能力的中枢神经。既然芯片如此重要,那么芯片在制造过程中的测试就显得尤为关键和重要。

X-ray无损检测设备

在芯片生产过程中,芯片测试贯穿整个芯片的设计量产权过程当中。芯片功能失败主要是因为芯片某个功能点没有实现,芯片的设计过程中,通常有一段计划阶段前的仿真验证,也就是说芯片真正被生产出来,要经历大约80%的仿真验证时间。

芯片性能失败很可能是因为某个性能指标没有达标,造成这种现象的原因有很多,最主要是因为前期系统没有做足余量,或者是因为物理实现版图过于糟糕。出现这种情况通常会用后仿真进行验证。

对于对于达要求的芯片必须进行检测出来,于是就产生了芯片测试,当检测出来的失效或者半失效的产品,就会进行阉割出售,一般都是低端产品。

随着科技的进步,芯片面积也越来越大,对于芯片的测试就更具挑战性,测试的过程中不可能对于每个信号都测试,因此在测试时就采用可测性实际,也就是我们常说的DFT。

瑞茂光学所研发的芯片测试设备,能够准确的检测出芯片在制造过程中出现的所有问题,同时又可以把芯片严格分类。选择瑞茂光学,就等于选择了成功。

标签: 芯片测试
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